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portada system-on-chip test architectures,nanometer design for testability
Formato
Libro Físico
N° páginas
856
Peso
4
ISBN
012373973X
ISBN13
9780123739735

system-on-chip test architectures,nanometer design for testability

Laung-Terng (Edt) Wang (Autor) · elsevier science ltd · Libro Físico

system-on-chip test architectures,nanometer design for testability - laung-terng (edt) wang

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