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portada Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Formato
Libro Físico
Año
2002
Idioma
Inglés
N° páginas
476
Encuadernación
Tapa Dura
ISBN
0780310004
ISBN13
9780780310001

Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability

Ashok K. Sharma (Autor) · John Wiley & Sons Inc · Tapa Dura

Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability - Ashok K. Sharma

Sin Stock

Reseña del libro "Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability"

Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including. * Memory cell structures and fabrication technologies. * Application-specific memories and architectures. * Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs. * Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing. * Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.

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