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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Jacopo Franco (Autor)
·
Springer
· Tapa Dura
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Jacopo Franco
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