menú

0
  • argentina
  • chile
  • colombia
  • españa
  • méxico
  • perú
  • estados unidos
  • internacional
portada built in test for vlsi: pseudorandom techniques
Formato
Libro Físico
Año
1987
Idioma
Inglés
N° páginas
368
ISBN
0471624632
ISBN13
9780471624639

built in test for vlsi: pseudorandom techniques

Bardell, Paul H. (Autor) · wiley-interscience · Libro Físico

built in test for vlsi: pseudorandom techniques - bardell, paul h.

Sin Stock

Opiniones del libro

Ver más opiniones de clientes
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)

Preguntas frecuentes sobre el libro

Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Inglés.

Preguntas y respuestas sobre el libro

¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.

Opiniones sobre Buscalibre

Ver más opiniones de clientes