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portada atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 2
Formato
Libro Físico
Editorial
Autor
N° páginas
250
Peso
1
ISBN
030645596X
ISBN13
9780306455964
Categorías

atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 2

Samuel H. (Edt) Cohen (Autor) · kluwer academic pub · Libro Físico

atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 2 - samuel h. (edt) cohen

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